環境試驗設備相關國家標準(GB)
可靠性、環境試驗相關國家標準
GB 2421—1999 電工電子產品環境試驗規程 總則
GB 2422—1995 電工電子產品環境試驗 術語
GB/T 2423.1—2001 電工電子產品基本環境試驗規程 試驗A:低溫試驗方法
GB/T 2423.1—2001 電子電子產品環境試驗 第1部分:試驗方法 試驗A:低溫
GB/T 2423.2—2001 電工電子產品基本環境試驗規程 試驗B:高溫試驗方法
GB/T 2423.3—1993 電工電子產品基本環境試驗規程 試驗Ca:恒定濕熱試驗方法
GB/T 2423.4—1993 電工電子產品環基本境試驗規程 試驗Db:交變濕熱試驗方法
GB/T 2423.5—1995 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ea和導則:衝擊
GB/T 2423.6—1995 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Eb和導則:碰撞
GB/T 2423.7—1995 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ec和導則:傾跌與翻倒
GB/T 2423.8—1995 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ed:自由跌落
GB/T 2423.9—2001 電工電子產品基本環境試驗規程 試驗Cb:設備用恒定濕熱試驗方法
GB/T 2423.9—2001 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Cb:設備用恒定濕熱
GB/T 2423.10—1995 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Fc和導則:振動(正弦)
GB/T 2423.11-1997 電工電子產品環境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗Fd: 寬頻帶隨機振動 一般要求
GB/T 2423.12-1997 電工電子產品環境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗Fda: 寬頻帶隨機振動 高再現性
GB/T 2423.13-1997 電工電子產品環境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗Fdb: 寬頻帶隨機振動 中再現性
GB/T 2423.14-1997 電工電子產品環境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗Fdc: 寬頻帶隨機振動 低再現性
GB/T 2423.15-1995 電工電子產品環境試驗 第二部分: 試驗方法 試驗Ga和導則: 穩態加速度
GB/T 2423.15—1995 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ga和導則:穩態加速度
GB/T 2423.16—1999 電工電子產品環境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗J和導則: 長黴
GB/T 2423.17-1993 電工電子產品基本環境試驗規程 試驗Ka: 鹽霧試驗方法
GB/T 2423.18—1985(2000) 電工電子產品基本環境試驗規程 試驗Kb:交變鹽霧試驗方法(氯化鈉溶液)
GB/T 2423.18—2000 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗 試驗Kb:鹽霧,交變(氯化鈉溶液)
GB 2423.19-1981 電工電子產品基本環境試驗規程 試驗Kc: 接觸點和連接件的二氧化硫試驗方法
GB 2423.20-1981 電工電子產品基本環境試驗規程 試驗Kd: 接觸點和連接件的硫化氫試驗方法
GB/T 2423.21—1991 電工電子產品基本環境試驗規程 試驗M:低氣壓試驗方法
GB/T 2423.22—2002 電工電子產品基本環境試驗規程 試驗N:溫度變化試驗方法
GB/T 2423.23—1995 電工電子產品環境試驗 試驗Q:密封
GB/T 2423.24—1995 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Sa:模擬地麵上的太陽輻射
GB/T 2423.25—1992 電工電子產品基本環境試驗規程 試驗Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗
GB/T 2423.26—1992 電工電子產品基本環境試驗規程 試驗Z/BM:高溫/低氣壓綜合試驗
GB/T 2423.27—1981 電工電子產品基本環境試驗規程 試驗Z/AMD:低溫/低氣壓/濕熱連續綜合試驗方法
GB/T 2423.28—1982 電工電子產品基本環境試驗規程 試驗T:錫焊試驗方法
GB 2423.29-1982 電工電子產品基本環境試驗規程 試驗U:引出端及整體安裝強度
GB/T 2423.30—1999 電工電子產品基本環境試驗規程 試驗XA:在清洗劑中浸漬
GB/T 2423.30-1999 電工電子產品環境試驗 第2部分 試驗方法 試驗XA和導則:在清洗劑中金字
GB/T 2423.31—1985 電工電子產品基本環境試驗規程 傾斜和搖擺試驗方法
GB/T 2423.32—1985 電工電子產品基本環境試驗規程 試驗潤濕稱量法可焊性試驗方法
GB/T 2423.33—1982(1989) 電工電子產品基本環境試驗規程 試驗Kca:高濃度二氧化硫試驗方法
GB/T 2423.34—1986 電工電子產品基本環境試驗規程 試驗Z/AD:溫度/濕度綜合循環試驗方法
GB/T 2423.35—1986 電工電子產品基本環境試驗規程 試驗Z/Afc:散熱和非散熱試驗樣品的低溫/振動(正弦)綜合試驗方法
GB/T 2423.36—1986 電工電子產品基本環境試驗規程 試驗Z/BFc:散熱和非散熱試驗樣品的高溫/振動(正弦)綜合試驗方法
GB/T 2423.37—1989 電工電子產品基本環境試驗規程 試驗L:沙塵試驗方法
GB/T 2423.38—1990 電工電子產品基本環境試驗規程 試驗R:水試驗方法
GB/T 2423.39—1990 電工電子產品基本環境試驗規程 試驗Ee:彈跳試驗方法
GB/T 2423.40—1997 電工電子產品環境試驗 第二部分:試驗方法 試驗Cx:未飽和高壓蒸汽恒定濕熱
GB/T 2423.41—1994 電工電子產品基本環境試驗規程 風壓試驗
GB/T 2423.42—1995 電工電子產品環境試驗 低溫/低氣壓/振動(正弦)綜合試驗方法
GB/T 2423.43—1995 電工電子產品環境試驗 第二部分:試驗方法 元件,設備和其他產品在衝擊,碰撞,振動和穩態加速度等動力學試驗中的安裝要求和導則
GB/T 2423.43-1995 電工電子產品環境試驗 第二部分: 試驗方法 元件、設備和其他產品在衝擊(Ea) 、碰撞(Eb) 、振動(Fc和Fb)和穩態加速度(Ca)等動力學試驗中的安裝要求和導則
GB/T 2423.44-1995 電工電子產品環境試驗 第二部分: 試驗方法 試驗Eg: 撞擊 彈簧錘
GB/T 2423.45-1997 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Z/ABDM:氣候順序
GB/T 2423.46-1997 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ef:撞擊 擺錘
GB/T 2423.47-1997 電工電子產品環境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗Fg: 聲振
GB/T 2423.48-1997 電工電子產品環境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗Ff: 振動—時間曆程法
GB/T 2423.49-1997 電工電子產品環境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗Fe: 振動—正弦拍頻法
GB/T 2423.50-1999 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Cy:恒定濕熱主要用於元件的加速試驗
GB/T 2423.51-2000 電工電子產品環境試驗 第2部分 試驗方法 試驗Ke 流動混合氣體腐蝕試驗
GB/T 2424.1-1989 電工電子產品基本環境試驗規程 高溫低溫試驗導則
GB/T 2424.2-1993 電工電子產品基本環境試驗規程 濕熱試驗導則
GB/T 2424.10-1993 電工電子產品基本環境試驗規程 大氣腐蝕加速試驗的通用導則
GB/T 2424.11-1982 電工電子產品基本環境試驗規程 接觸點和連接件的二氧化硫試驗導則
GB/T 2424.12-1982 電工電子產品基本環境試驗規程 接觸點和連接件的硫化氫試驗導則
GB/T 2424.13-1981 電工電子產品基本環境試驗規程 溫度變化試驗導則
GB/T 2424.14-1993 電工電子產品環境試驗 第2部份:試驗方法 太陽輻射試驗導則
GB/T 2424.15-1992 電工電子產品基本環境試驗規程 溫度/低氣壓綜合試驗導則
GB/T 2424.17-1995 電工電子產品環境試驗 錫焊試驗導則
GB/T 2424.19-1984 電工電子產品基本環境試驗規程 模擬貯存影響的環境試驗導則
GB/T 2424.20-1985 電工電子產品基本環境試驗規程 傾斜和搖擺試驗導則
GB/T 2424.21-1985 電工電子產品基本環境試驗規程 潤濕稱量法可焊性試驗導則
GB/T 2424.22-1986 電工電子產品基本環境試驗規程 溫度(低溫、高溫)和振動(正弦)綜合試驗導則
GB/T 2424.23-1990 電工電子產品基本環境試驗規程 水試驗導則
GB/T 2424.24-1995 電工電子產品環境試驗 溫度(低溫、高溫)和振動(正弦)綜合試驗導則
GB/T 2424.25-2000 電工電子產品環境試驗 第3部份:試驗導則 地震試驗方法