ISO3497-2000X熒光鍍層測厚儀

ISO3497-2000金屬鍍層 鍍層厚度的測量 X射線光譜測定法。

試驗基礎：

塗層單位麵積的質量（如果密度已知,則為線性塗層厚度）與二次輻射強度之間存在關係。對於任何實際的儀器係統，這種關係首先是通過使用單位麵積具有已知質量塗層的校準標準進行校準來建立的。如果已知塗層材料密度,則此類標準可以以線性厚度單位給出塗層,前提是也給出了實際密度值。

注：塗層材料密度是塗層的密度，在測量時可能是也可能不是塗層材料的理論密度。如果該密度與校準標準的密度不同，則應使用反映該差異的係數並記錄在試驗報告中。

熒光強度是元素原子序數的函數。如果頂塗層、中間塗層（如果有）和基底由不同的元素組成或塗層由多個元素組成，則這些元素將為每個元素產生輻射特性。一個合適的探測器係統可以調整以選擇一個或多個能帶，使設備能夠同時測量頂部塗層或頂部和一些中間塗層的厚度和/或成分。

試驗報告應包括以下信息：

1、參考本國際標準，即ISO 3497；

2、明確鑒定試樣；

3、測量日期；

4、試樣上的測量位置；

5、每次報告測量的平均測量次數；

6、準直器孔徑大小和測量區域大小（如果不同）；

7、測量值；

8、用於厚度計算的密度和所用值的合理性；

9、代表報告測量值的標準偏差；

10、與本ISO試驗方法的任何偏差；

11、可能影響報告結果解釋的任何因素；

12、操作人員和檢測實驗室的名稱；

13、所用校準或其他可接受參考標準的蕞新認證日期及其可追溯性。

X射線熒光分析測厚儀能提供：鍍層厚度和元素分析功能,不但性能優越,而且價格優惠。分析鍍層厚度和元素成份同時進行，隻需數秒鍾便能非破壞性地得到準確的測量結果，多層鍍層的厚度測量也一樣能勝任。輕巧的樣品室，適合不同大小的樣品，功能實用，準確性高,是五金電鍍,首飾,端子等行業的首要選擇。

Cube係列可測量各類金屬、合金單層及多層的鍍層厚度、電鍍液中金屬離子的含量和合金元素成份及含量。

ACZET係列X射線熒光分析測厚儀特點：

ACZET係列X射線鍍層測厚儀是基於X射線熒光技術，該技術已經被證實並且得到廣泛應用，可以在無須樣品製備的情況下提供易於操作、快速和無損的分析。它能分析固體和液體，元素範a圍包括從元素周期表中的Ti22到U92，並且具有不同大小的樣品艙。

產品功能：

1. 采用X射線熒光光譜法無損測量金屬鍍層、覆蓋層厚度，測量方法滿足GB/T 16921-2005標準（等同ISO3497：2000、 ASTM B568和DIN50987）。

1. 鍍層元素範圍：鈦～鈾，包含常見的金、鎳、銅、銀、錫、鋅、鉻、鈀等。

2. 鍍層層數：多至5層。

3. 測量點尺寸：圓形測量點，直徑約0.2-0.8毫米。

4. 測量時間：通常35秒-180秒。

5. 樣品蕞大尺寸：330 x 200 x 170 mm (長x寬x高)。

6. 測量誤差：通常小於5%，視樣品具體情況而定。

7. 可測厚度範圍：通常0.01微米到30微米，視樣品組成和鍍層結構而定。

8. 同時定量測量8個元素。

9. 定性鑒定材料達20個元素。

產品參數：

· X射線光管  微聚焦，高性能，鎢靶，焦斑尺寸0.2-0.8mm

· 高電壓 50千伏（1.2毫安）可根據軟件控製優化

· 探測器  高分辨氣體正比計數探測器

· 準直器  單一固定準直器直徑0.3mm

· 樣品倉  330 x 200 x 170 mm

· 樣品台  手動Z軸樣品台

· 電源    230VAC, 50/60Hz, 120W / 100W

· 儀器尺寸  350 x 420 x 310 mm 

本文出自東莞市澳騰斯儀器有限公司，轉載請注明出處！更多澳騰斯地板類檢測設備相關資訊請訪問：www.aotsichina.com

24小時熱線電話：13712277050