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熒光鍍層測厚儀的使用方法講解

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摘要:熒光鍍層測厚儀測量方便快捷,無需液氮,無需樣品前處理。對工業電鍍、化鍍、熱鍍等各種鍍層的成分厚度以及電鍍液金屬離子濃度進行精準檢測。

熒光鍍層測厚儀的使用方法主要有五種,分別是磁性測厚法、渦流測厚法、超聲波測厚法、電解測厚法、放射測厚法。熒光鍍層測厚儀的每種使用方法,都有其自身獨特的優勢。

1.磁性測厚法:適用導磁材料上的非導磁層厚度測量。導磁材料一般為:鋼\鐵\銀\鎳。此種方法測量精度高

2.渦流測厚法:適用導電金屬上的非導電層厚度測量。此種方法較磁性測厚法精度低。

3.超聲波測厚法:目前國內還沒有用此種方法測量塗鍍層厚度的,國外個別廠家有這樣的儀器,適用多層塗鍍層厚度的測量或則是以上兩種方法都無法測量的場合.但一般價格昂貴\測量精度也不高。

4.電解測厚法:此方法有別於以上三種,不屬於無損檢測,需要破壞塗鍍層。一般精度也不高。測量起來較其他幾種麻煩。

5.放射測厚法:此種儀器價格非常昂貴(一般在10萬rmb以上),適用於一些特殊場合。

 

熒光鍍層測厚儀

膜厚儀Star II  應用場景

>熒光鍍層測厚儀測量的對象包括鍍層、敷層、貼層、塗層、化學生成膜等

>可測量離子鍍、電鍍、蒸鍍、等各種金屬鍍層的厚度

>鍍鉻,例如帶有裝飾性鍍鉻飾麵的塑料製品

>鋼上鋅等防腐塗層

>貴金屬成分分析,貴金屬鍍層,如金基上的銠材料分析

>分析硬質材料塗層,例如 CrN、TiN 或 TiCN

>可拓展增加RoHS有害元素分析功能,電鍍液離子濃度分析

膜厚儀Star II 產品特點

>超大樣品腔

>一鍵測試,一鍵打印報告

>與其他軟件的無縫集成使其能夠輕鬆導出數據,兼容LIMS數據庫

>經久耐用,在充滿考驗的生產或實驗室環境中使用壽命長

膜厚儀Star II  可分析的常見鍍層材料

 熒光鍍層測厚儀可測試重複鍍層、非金屬、輕金屬、多層多元素以及有機物層的厚度及成分含量。

單塗鍍層應用:如可檢測鐵鍍鎳、銅鍍鎳、鐵鍍鉻、銅鍍錫、銅鍍金、銅鍍銀等單鍍層的厚度和元素成分

多塗鍍層應用:如Ni/Cu/Fe鐵鍍銅鍍鎳,Au/Ni/Cu銅鍍鎳鍍金,Sn/Ni/Cu銅鍍鎳鍍錫等

合金鍍層應用:如ZnNi/Fe鐵鍍鎳鋅合金, ZnAl/Ni/Cu銅鍍鎳鍍鋁鋅合金等

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