鍍層測厚儀是由於部件表麵的探頭產生一個閉合的磁回路，隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變，該磁回路將不同程度的改變，引起磁阻及探頭線圈電感的變化。利用這一原理可以精 確地測量探頭與鐵磁性材料間的距離。接下來了解一下鍍層測厚儀使用方法及使用注意事項。

鍍層測厚儀的正確使用方法：

一，打開電源觀察菜單。當你打開電源之後，你會觀察到顯示屏上麵的菜單。這個時候，我們需要對它選擇一定的模式，測量模式主要分為F或者NF。接著你對選擇功能表進行一定的點擊，再設置校準方法。有的時候，我們需要把一種測量方法轉化為另外一種測量方法。我們還可以通過屏幕上的提示來進行一定的選擇。

二，校準。校準，在測量的過程中是一種必須要會的方法。我們需要選擇一個有鍍層的金屬構件，然後把一個比較後的foil放置在金屬的表麵，這個時候我們再把鍍層測量儀的探頭垂直地放在foil的上麵。仔細觀察的話，你會發現屏幕上會顯示foil的厚度數據。

三，再校準。你需要找到一個沒有foil鍍層的金屬，再對上一進行一定的重複，也就是再次把探頭放在物體的表麵，然後再修正數據，目的是保持它的值跟foil保持一致。到這一之後，你的校準工作就已經全部完成了。

四，測量數據。該鍍層測厚儀在對物體的鍍層進行測量之前，好是先在統計表上選擇統計。這樣之後，你會發現所顯示的新數據就是後一次的讀數，任何一次得到的讀數都會進行自動的統計，假如測量的並不是某一點的鍍層厚度，就會記錄後的平均值。

膜厚儀Star II  應用場景

>鍍層測厚儀測量的對象包括鍍層、敷層、貼層、塗層、化學生成膜等

>可測量離子鍍、電鍍、蒸鍍、等各種金屬鍍層的厚度

>鍍鉻，例如帶有裝飾性鍍鉻飾麵的塑料製品

>鋼上鋅等防腐塗層

>貴金屬成分分析，貴金屬鍍層，如金基上的銠材料分析

>分析硬質材料塗層，例如 CrN、TiN 或 TiCN

>可拓展增加RoHS有害元素分析功能，電鍍液離子濃度分析

膜厚儀Star II 產品特點

>超大樣品腔

>一鍵測試，一鍵打印報告

>與其他軟件的無縫集成使其能夠輕鬆導出數據，兼容LIMS數據庫

>經久耐用，在充滿考驗的生產或實驗室環境中使用壽命長

膜厚儀Star II  可分析的常見鍍層材料

鍍層測厚儀可測試重複鍍層、非金屬、輕金屬、多層多元素以及有機物層的厚度及成分含量。

單塗鍍層應用：如可檢測鐵鍍鎳、銅鍍鎳、鐵鍍鉻、銅鍍錫、銅鍍金、銅鍍銀等單鍍層的厚度和元素成分

多塗鍍層應用：如Ni/Cu/Fe鐵鍍銅鍍鎳，Au/Ni/Cu銅鍍鎳鍍金，Sn/Ni/Cu銅鍍鎳鍍錫等

合金鍍層應用：如ZnNi/Fe鐵鍍鎳鋅合金, ZnAl/Ni/Cu銅鍍鎳鍍鋁鋅合金等

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