镀层测厚仪是由于部件表面的探头产生一个闭合的磁回路，随着探头与铁磁性材料间的距离的改变，该磁回路将不同程度的改变，引起磁阻及探头线圈电感的变化。利用这一原理可以精 确地测量探头与铁磁性材料间的距离。接下来了解一下镀层测厚仪使用方法及使用注意事项。

镀层测厚仪的正确使用方法：

一，打开电源观察菜单。当你打开电源之后，你会观察到显示屏上面的菜单。这个时候，我们需要对它选择一定的模式，测量模式主要分为F或者NF。接着你对选择功能表进行一定的点击，再设置校准方法。有的时候，我们需要把一种测量方法转化为另外一种测量方法。我们还可以通过屏幕上的提示来进行一定的选择。

二，校准。校准，在测量的过程中是一种必须要会的方法。我们需要选择一个有镀层的金属构件，然后把一个比较后的foil放置在金属的表面，这个时候我们再把镀层测量仪的探头垂直地放在foil的上面。仔细观察的话，你会发现屏幕上会显示foil的厚度数据。

三，再校准。你需要找到一个没有foil镀层的金属，再对上一进行一定的重复，也就是再次把探头放在物体的表面，然后再修正数据，目的是保持它的值跟foil保持一致。到这一之后，你的校准工作就已经全部完成了。

四，测量数据。该镀层测厚仪在对物体的镀层进行测量之前，好是先在统计表上选择统计。这样之后，你会发现所显示的新数据就是后一次的读数，任何一次得到的读数都会进行自动的统计，假如测量的并不是某一点的镀层厚度，就会记录后的平均值。

膜厚仪Star II  应用场景

>镀层测厚仪测量的对象包括镀层、敷层、贴层、涂层、化学生成膜等

>可测量离子镀、电镀、蒸镀、等各种金属镀层的厚度

>镀铬，例如带有装饰性镀铬饰面的塑料制品

>钢上锌等防腐涂层

>贵金属成分分析，贵金属镀层，如金基上的铑材料分析

>分析硬质材料涂层，例如 CrN、TiN 或 TiCN

>可拓展增加RoHS有害元素分析功能，电镀液离子浓度分析

膜厚仪Star II 产品特点

>超大样品腔

>一键测试，一键打印报告

>与其他软件的无缝集成使其能够轻松导出数据，兼容LIMS数据库

>经久耐用，在充满考验的生产或实验室环境中使用寿命长

膜厚仪Star II  可分析的常见镀层材料

镀层测厚仪可测试重复镀层、非金属、轻金属、多层多元素以及有机物层的厚度及成分含量。

单涂镀层应用：如可检测铁镀镍、铜镀镍、铁镀铬、铜镀锡、铜镀金、铜镀银等单镀层的厚度和元素成分

多涂镀层应用：如Ni/Cu/Fe铁镀铜镀镍，Au/Ni/Cu铜镀镍镀金，Sn/Ni/Cu铜镀镍镀锡等

合金镀层应用：如ZnNi/Fe铁镀镍锌合金, ZnAl/Ni/Cu铜镀镍镀铝锌合金等

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